RF-Testsonde SMA auf Nadelspitze für Spektrumanalysator, Signalverfolgung, Schaltkreistestung, LNA, Amateurfunk-Verstärker, Oszilloskop

Produktbeschreibung

SMA auf Einzel-Pin-/Dual-Pin-Hochfrequenz-Testsonde – HF-Telefon-Testkopf, SMA-KF-Kronenspitze für Spektrumanalysator und HF-Signal-Debugging-Reparatur-Funkverstärker
Bitte schauen Sie sich vor dem Kauf das Werbetestvideo an.
Produktbeschreibung
Diese Hochfrequenz-Prüfspitze ist ein Präzisionsstecker, der für die schnelle, zerstörungsfreie Prüfung elektronischer Schaltkreise entwickelt wurde. Ihre Kernfunktion ist es
eine wiederholbare temporäre elektrische Verbindung zur Signalerfassung und Parametermessung herstellen, ohne das Gerät zu beschädigen
Testobjekt (DUT) oder stört den normalen Schaltkreisbetrieb. Es macht zusätzliche Flugdrähte oder spezielle Testanschlüsse überflüssig
was sie ideal für die Prüfung von Zwischenmesspunkten auf Leiterplatten macht. Erhältlich in Einzel- oder Doppel-Pin-Konfigurationen, mit Kronenspitze. SMA-KF-Schnittstelle (Buchse, mit Flansch). Geeignet für HF-Tests, Mobiltelefon-Produktionslinien, F&E-Labore und Feldreparaturen.
Spezifikationen
Impedanz: 50Ω
Mechanische Lebensdauer: ≥8000 Zyklen
Kontaktwiderstand: 100 mΩ
Isolationswiderstand: 1000MΩ
Materialien
Stift: Berylliumkupfer, vernickelt
Isolator: PTFE (Teflon)
Gehäuse: Messing, vernickelt

Produktdetails in Bildern

Produkteigenschaften

Markenname

DYKBmetered

Ursprung

CN (Herkunft)

Hochbetriebenes Chemikalienunternehmen

Keine

Halbfertigprodukt

Ja

Heimwerkerbedarf

elektrisch

Elektronisch

Nein

Typ

SMA to Probe Single/Dual Needle Tip

Ausgangsspannung

SMA to pogo pin

Datenaufzeichnung

Nein

Art

FOR Radio frequency Spectrum Analyzer Signal Tracing

Zertifizierung

NONE

Modellnummer

RF Test Probe

Größe

Material:Brass nickel-plated

RF Test Probe

Spectrum Analyzer Signal Tracing Circuit Testing

SMA to Needle Tip Single Dual Probe

LNA Amplifier Ham Radio DIY Repair

Choice

yes